| Attributes | Values |
|---|
| rdfs:label
| - Лазерная рентгеновская микроскопия
|
| rdfs:comment
| - Как правило появление новых методов микроскопии вообще связано с разработкой и соданием лазерных рентгеновских микроскопов, флюоресцентных (нано) микроскопов благодаря достижениям в области новых открытий в физике, создания новых материалов, оптических устройств, методов метрологического обеспечения. Так например, развитие новых методов и в частности лазерной рентгеноскопии, флюоресцентной микроскопии вызвано с соданием микроскопов с возможностью сжатия и получения «жёстких» рентгеновских лучей, применяемых в диапазоне меньших длин волн, включая длину волны 0,1нм. Новые микроскопы используют явления флюоресценции с возможностью флюоресцентного исследования в отражённом или проходящем освещении, где внедрено опорное рентгеновское освещение и новые линзы, способные преломлять рентгеновские л
|
| dcterms:subject
| |
| dbkwik:ru.science/...iPageUsesTemplate
| |
| abstract
| - Как правило появление новых методов микроскопии вообще связано с разработкой и соданием лазерных рентгеновских микроскопов, флюоресцентных (нано) микроскопов благодаря достижениям в области новых открытий в физике, создания новых материалов, оптических устройств, методов метрологического обеспечения. Так например, развитие новых методов и в частности лазерной рентгеноскопии, флюоресцентной микроскопии вызвано с соданием микроскопов с возможностью сжатия и получения «жёстких» рентгеновских лучей, применяемых в диапазоне меньших длин волн, включая длину волны 0,1нм. Новые микроскопы используют явления флюоресценции с возможностью флюоресцентного исследования в отражённом или проходящем освещении, где внедрено опорное рентгеновское освещение и новые линзы, способные преломлять рентгеновские лучи и т.д. Для получения и дальнейшей регистрации дифракционной картины на одиночном объекте требуется:
* высокая концентрация энергии излучения на исследуемом объекте как из-за его размера (традиционный рентгеноструктурный анализ имеет дело с кристаллами из исследуемых объектов), так и из-за ограниченной чувствительности принимающей аппаратуры (при недостаточной энергии не удастся зафиксировать картину);
* малое время экспонирования, так как вследствие высокой концентрации энергии объект неизбежно разрушается излучением. Характерные временные интервалы — несколько фемтосекунд (10-12 с);
* высокая пространственная когерентность излучения (длина когерентности должна быть по крайней мере сравнима с длиной оптического пути прибора), в противном случае из-за малого времени экспонирования возникающее искажение фазы не позволит сформировать устойчивую дифракционную картину.
|
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)