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  • 근접장 탐침
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  • 근접장을 검출하는 근접장 탐침 기술인 SPM 은 나노 수준으로 예리한 바늘이 달림 탐침을 시료에 근접시켰을 때 바늘 끝이 느끼는 근접장 상호 작용을 이용하여 표면 형상 뿐만 아니라 다양한 물리적 특성을 검출하는 것이다. 광학부품들이 축소되어 근접장 탐침 속에 통합됨에 따라, 앞으로 주사근접장 광학현미경은 실험실의 보편적인 기술이 될 전망이다. 미소한 구멍이 없는 탐침을 이용하여 산란된 근접장을 받는 apertureless tip을 이용한 NSOM도 연구되고 있다. 파장보다 작은 구멍의 연구에서는, 광출력 모양을 낮은 차수의 벡터 구면파로 분석하여 근접장 탐침에 대한 일반적인 다중극 모델을 제안되었는데 작은 구멍에서는 표면파가 발생하여 편광 방향으로 진행한다. 점점 사라져 가는 빛을 내고, 시료에 따라서 산란 또는 터널되어, 탐침으로부터 떨어진 빛을 검출하는 방식도 있다. nsmm에서 분해능은 금속 탐침 끝단의 곡률반경에 의해서 결정되고, 탐침 끝단에 형성된 근접장 효과를 이용한다. 분류:근접장 기록
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abstract
  • 근접장을 검출하는 근접장 탐침 기술인 SPM 은 나노 수준으로 예리한 바늘이 달림 탐침을 시료에 근접시켰을 때 바늘 끝이 느끼는 근접장 상호 작용을 이용하여 표면 형상 뿐만 아니라 다양한 물리적 특성을 검출하는 것이다. 광학부품들이 축소되어 근접장 탐침 속에 통합됨에 따라, 앞으로 주사근접장 광학현미경은 실험실의 보편적인 기술이 될 전망이다. 미소한 구멍이 없는 탐침을 이용하여 산란된 근접장을 받는 apertureless tip을 이용한 NSOM도 연구되고 있다. 파장보다 작은 구멍의 연구에서는, 광출력 모양을 낮은 차수의 벡터 구면파로 분석하여 근접장 탐침에 대한 일반적인 다중극 모델을 제안되었는데 작은 구멍에서는 표면파가 발생하여 편광 방향으로 진행한다. 점점 사라져 가는 빛을 내고, 시료에 따라서 산란 또는 터널되어, 탐침으로부터 떨어진 빛을 검출하는 방식도 있다. nsmm에서 분해능은 금속 탐침 끝단의 곡률반경에 의해서 결정되고, 탐침 끝단에 형성된 근접장 효과를 이용한다. 분류:근접장 기록
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