| Attributes | Values |
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| rdfs:label
| - Interferometría de moteado
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| - La interferometría Speckle consiste en el análisis de patrones de intensidad producidos por la interferencia mutua entre frentes de onda coherentes que son sujetos a diferencias de fase o fluctuaciones de intensidad. Estos patrones constituyen una valiosa fuente de información sobre la superficie iluminada. Distintos ejemplos de patrones speckle se presentan cuando se ilumina una superficie rugosa con un haz láser o cuando la imagen de una estrella distante es observada a través de la atmósfera (Speckle Imaging). Además, con el uso de estos sistemas es posible analizar, en un sólo punto, deformaciones o desplazamientos en la superficie de una muestra tanto en la dirección axial (modo out-plane) como en la dirección tangencial (in-plane mode).
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| dcterms:subject
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| Número
| - 2(xsd:integer)
- 4(xsd:integer)
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| dbkwik:astronomia/...iPageUsesTemplate
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| Título
| - Measurement of the Longitudinal and Transverse Vibration Frequencies of a Rod by Speckle Interferometry
- Measurin microvibrations by heterodyne speckle interferometry
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| Autor
| - Bayón A.; Gascón, F.; Varadé, A.
- Dändliker, R.; Willemin, J.-f
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| ID
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| año
| - 1980(xsd:integer)
- 1993(xsd:integer)
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| Volumen
| - 6(xsd:integer)
- 40(xsd:integer)
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| dbkwik:resource/sY1l5IaGo8vsxfHqm0jyoQ==
| - IEEE Trans.on Ultra., Ferro., and Freq. Control
- Optics Letters
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| abstract
| - La interferometría Speckle consiste en el análisis de patrones de intensidad producidos por la interferencia mutua entre frentes de onda coherentes que son sujetos a diferencias de fase o fluctuaciones de intensidad. Estos patrones constituyen una valiosa fuente de información sobre la superficie iluminada. Distintos ejemplos de patrones speckle se presentan cuando se ilumina una superficie rugosa con un haz láser o cuando la imagen de una estrella distante es observada a través de la atmósfera (Speckle Imaging). Además, con el uso de estos sistemas es posible analizar, en un sólo punto, deformaciones o desplazamientos en la superficie de una muestra tanto en la dirección axial (modo out-plane) como en la dirección tangencial (in-plane mode).
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