Встречное сканирование (ВС) — способ измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, позволяющий исправлять искажения растра, возникающие в результате дрейфа зонда микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности — прямой и встречный. Встречный скан начинается в точке, где заканчивается прямой скан. Перемещение по строке растра и перемещение от строки к строке растра во встречном скане выполняется в направлении противоположном направлению перемещения в прямом. Полученная пара изображений называется встречно-сканированными изображениями (ВСИ).
Встречное сканирование (ВС) — способ измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, позволяющий исправлять искажения растра, возникающие в результате дрейфа зонда микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности — прямой и встречный. Встречный скан начинается в точке, где заканчивается прямой скан. Перемещение по строке растра и перемещение от строки к строке растра во встречном скане выполняется в направлении противоположном направлению перемещения в прямом. Полученная пара изображений называется встречно-сканированными изображениями (ВСИ).