| Attributes | Values |
|---|
| rdfs:label
| - Сканирующий туннельный микроскоп
|
| rdfs:comment
| - В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи, и удлинение следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются, и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются:
* Во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²),
* Во-вторых, условием «глубина канавки должна быть меньше её ширины», потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.
|
| dcterms:subject
| |
| dbkwik:ru.science/...iPageUsesTemplate
| |
| abstract
| - В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи, и удлинение следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются, и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются:
* Во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²),
* Во-вторых, условием «глубина канавки должна быть меньше её ширины», потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей. Но это только основные ограничения. На самом деле их намного больше. Например, технология заточки иглы не может гарантировать одного острия на конце иглы, а это может приводить к параллельному сканированию двух разновысотных участков. Кроме ситуации глубокого вакуума, во всех остальных случаях всегда имеем на поверхности осаждённые из воздуха частицы, газы и т. д. Технология грубого сближения также оказывает колоссальное влияние на объективность полученных результатов. Если при подводе иглы к образцу мы не смогли избежать удара иглы о поверхность, то считать иглу состоящей из одного атома на кончике призмы будет большим преувеличением. В связи со сложностью изготовления и технологии микроскопи эти микроскопы не находят широкого применения.
|
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)