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Subject Item

n2:

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원자간력 현미경

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원자간력 현미경(AFM) 또는 원자 현미경, 주사 탐침 현미경은 주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. 렌즈를 이용해서 이미지를 형성하는 것이 아니라 AFM에 장착된 탐침을 이용해서 시료와 탐침 사이의 접촉 힘을 검출한다. 이름대로, 실험시료와 탐침의 원자 사이에 작용하는 힘을 검출하여 이미지를 구성한다. 탐침 현미경 중 가장 일반적으로 사용되고 있는 것이다. STM의 발명후에 시료, 탐침간에 움직이는 원자간력을 검출하여 표면형상을 관찰하는 원자간력현미경이 발명되었다 (AFM: Atomic Force Microscope). 분류:현미경

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원자간력 현미경(AFM) 또는 원자 현미경, 주사 탐침 현미경은 주사 프로브 현미경(Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. 렌즈를 이용해서 이미지를 형성하는 것이 아니라 AFM에 장착된 탐침을 이용해서 시료와 탐침 사이의 접촉 힘을 검출한다. 이름대로, 실험시료와 탐침의 원자 사이에 작용하는 힘을 검출하여 이미지를 구성한다. 탐침 현미경 중 가장 일반적으로 사용되고 있는 것이다. STM의 발명후에 시료, 탐침간에 움직이는 원자간력을 검출하여 표면형상을 관찰하는 원자간력현미경이 발명되었다 (AFM: Atomic Force Microscope). 분류:현미경