This HTML5 document contains 5 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Subject Item

n2:

rdfs:label

전자 현미경

rdfs:comment

전자 현미경(電子顯微鏡, electron microscope)은 전자 빔을 사용하여 미소한 물체를 확대시켜 보는 광학 기계다. 빛 대신 전자 빔을 사용하므로 일반 렌즈형 현미경보다 훨씬 큰 배율을 얻을 수 있는데, 최대 가능 배율은 30만 배 이상이다. 대표적인 것으로 전자 거울형과 방사형 전자 현미경 등이 있다. 전자 거울형은 시료(試料)의 전위가 전자총의 음극 전위와 거의 같은 조건에서 시료에 조사된 전자 빔이 시료 표면에서 반사되면 반사된 전자를 다시 가속시켜 전자 렌즈로 확대, 관찰하며 방사형은 시료 표면에서 방사하는 전자를 가속하고 전자 렌즈로 확대하여 관찰하는데, 시료 표면에서 전자를 방사시키려면 표면에 빛이나 열, 전자, 이온 또는 분자 등을 조사해야 한다. 분해능은 시료 표면에서 방사하는 전자의 에너지와 거기에 가해지는 전계의 비로 결정된다. 전자 현미경의 최고 분해능은 사용한 전자의 파장에 의해 정해진다. 즉 가장 상세하게 분리할수 있는 거리는 대략 파장만큼의 크기가 된다. 광학 현미경은 가시광선(빛)을쓰고 전자 현미경은 전자파를 이용한다.

dcterms:subject

n5: n7:

n6:abstract

전자 현미경(電子顯微鏡, electron microscope)은 전자 빔을 사용하여 미소한 물체를 확대시켜 보는 광학 기계다. 빛 대신 전자 빔을 사용하므로 일반 렌즈형 현미경보다 훨씬 큰 배율을 얻을 수 있는데, 최대 가능 배율은 30만 배 이상이다. 대표적인 것으로 전자 거울형과 방사형 전자 현미경 등이 있다. 전자 거울형은 시료(試料)의 전위가 전자총의 음극 전위와 거의 같은 조건에서 시료에 조사된 전자 빔이 시료 표면에서 반사되면 반사된 전자를 다시 가속시켜 전자 렌즈로 확대, 관찰하며 방사형은 시료 표면에서 방사하는 전자를 가속하고 전자 렌즈로 확대하여 관찰하는데, 시료 표면에서 전자를 방사시키려면 표면에 빛이나 열, 전자, 이온 또는 분자 등을 조사해야 한다. 분해능은 시료 표면에서 방사하는 전자의 에너지와 거기에 가해지는 전계의 비로 결정된다. 전자 현미경의 최고 분해능은 사용한 전자의 파장에 의해 정해진다. 즉 가장 상세하게 분리할수 있는 거리는 대략 파장만큼의 크기가 된다. 광학 현미경은 가시광선(빛)을쓰고 전자 현미경은 전자파를 이용한다. 투과 전자 현미경(TEM: Transmission Electron Microspe)은 얇은 시편을 투과한 전자들을 이용하여 영상 혹은 회절패턴을 얻어 재료의 모양뿐만 아니라 구조적인 정보까지도 같이 얻을 수 있다. 분류:전자 현미경